Контроль орієнтаційних і структурних змін у кристалічних матеріалах in situ у процесі зовнішнього впливу
Запропонований метод може бути використаний при визначенні кристалографічної орієнтації та структури полікристалічних матеріалів, їх змінення в процесі зовнішнього впливу, а також при вивченні закономірностей пластичної деформації кристалічних матеріалів
ОПИС:
Розроблено принципово новий спосіб визначення кристалографічної орієнтації різних областей зразка та їх змін in situ у процесі зовнішнього впливу, який базується на дифракції білого світла на квазіперіодичній структурі, що виникає на поверхні полікристалічного зразка в результаті хімічного травлення. Розробка затребувана на ринку України, Росії, Німеччини, США, Японії
Дата розміщення:
2021-12-27
Дата останнього оновлення:
2021-12-27
Тематичний напрям / Сфера застосування:
Матеріали
