Універсальний дефектоскоп для контролю якості шарів із низькою електропровідністю
Розробка призначена для контролю однорідності електричних параметрів шарів із низькою електропровідністю на виробах різного призначення. Такий контроль забезпечує виявлення дефектів різної природи і є важливою складовою визначення якості виробів. Контроль необхідний як при виготовленні виробів, так і в процесі їх експлуатації Такі дефектоскопи можуть використовуватись на підприємствах машинобудівної, приладобудівної та інших галузей.
ОПИС:
У техніці широко застосовуються шари різного призначення і складу (напівпровідникові, високоентропійні). Шари часто мають неоднорідності: пори, тріщини, включення іншої фази тощо, внаслідок чого істотно знижується їх якість. Для контролю наявності таких дефектів в умовах виробництва необхідні прилади, що задовольняють набір вимог: універсальність, оперативність і низька вартість контролю, локальність і висока чутливість виявлення дефектів та можливість автоматизації, включаючи інтегрування в загальну систему контролю якості виробництва. Розроблений дефектоскоп задовольняє всі ці вимоги, зокрема забезпечує виявлення дефектів з локальністю 0,1 мм і більше в шарах на площинах виробів розміром 1020 см
Дата розміщення:
2022-01-14
Дата останнього оновлення:
2022-01-14
Тематичний напрям / Сфера застосування:
Автомобілі, транспорт, логістика, Нано- і мікротехнології, Авіаційна і космічна промисловість
